奧地利Alicona Imaging Profiler光學輪廓儀 基于輪廓和面積的粗糙度測量

Profiler用于粗糙度測量的光學輪廓儀

 

基于輪廓和面積的粗糙度測量的光學輪廓儀

Profiler是一個手持式3D粗糙度測量系統(tǒng)，用于高分辨率測量表面粗糙度。用戶只用一個系統(tǒng)就可以測量平面和曲面部件的粗糙度。測量是基于輪廓（ISO 4287）和基于面積（ISO 25178）進行的。

輕巧的Profiler由一個三維測量傳感器和一個堅固的、同時也是方便的框架組成。符合人體工程學的設(shè)計結(jié)合了使用的便利性和所需的機械剛性。在最短的三秒鐘內(nèi)就可以實現(xiàn)可追溯和可重復(fù)的測量。

技術(shù)規(guī)格

技術(shù)參數(shù)

測量標準非接觸，光學，立體三維，基于Focus Variation 自動變焦技術(shù)
定位量 (Z)25 mm (自動)

分辨率和技術(shù)參數(shù)

物鏡放大倍數(shù)x10x20x50
工作距離mm17.51610.1
橫向測量范圍(X,Y)mm210.4
(X x Y)mm2410.16
垂直分辨率nm1005020
最小可測量表面輪廓粗糙度 (Ra)μm0.30.240.18
最小可測量表面面粗糙度 (Sa)μm0.150.120.9

 


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