美國(guó)JCHADWICK 實(shí)驗(yàn)室支架 X-Y平臺(tái) 用于固定測(cè)微儀

當(dāng)被測(cè)物無(wú)法放置在物鏡下方，或其表面幾何形狀不適合安裝底座時(shí)，將光學(xué)測(cè)微儀作為手持設(shè)備使用就會(huì)變得困難。
例如：

• 復(fù)雜的幾何結(jié)構(gòu)

• 凹面

• 精細(xì)易損的表面涂層

實(shí)驗(yàn)室支架無(wú)需使用底座，因此測(cè)微儀不會(huì)與被檢表面接觸。這使得在各種底座都不適用的情況下，仍能拓展應(yīng)用范圍。

測(cè)微儀還可以傾斜，以便檢查花鍵和邊角部位。

X-Y平臺(tái)則可實(shí)現(xiàn)被測(cè)物在視野中的精確定位。

實(shí)驗(yàn)室支架非常適合與 Dino-Eye相機(jī)配合使用，因?yàn)樗芾喂坦潭y(cè)微儀，同時(shí)解放用戶雙手。