自 1998 年以來(lái)，LK Technologies 已向全球范圍提供高端 LEED 系統(tǒng)，廣泛應(yīng)用于表面結(jié)構(gòu)分析、晶體質(zhì)量檢測(cè)等領(lǐng)域。

🌟 系統(tǒng)特點(diǎn)：

• 反射視角光學(xué)設(shè)計(jì)（Reverse-View）

• 100% UHV兼容結(jié)構(gòu)：無(wú)玻璃纖維、無(wú)聚合物包覆導(dǎo)線

• 四柵極設(shè)計(jì)：支持與 AES（俄歇電子能譜）兼容

• 微型電子槍直徑僅 1.59 cm

• 103° 有效視場(chǎng)角度

• 能量分辨率 0.5%

• 可伸縮光學(xué)組件（標(biāo)準(zhǔn) 2 英寸，可定制至 4 英寸）

• 安裝法蘭帶有集成視窗與電連接端口

• 低噪音、高性能的 AES 電子學(xué)系統(tǒng)，集成鎖相放大器

• MCP 版本可用于皮安/納安級(jí)別電流

• 可選附件：低輪廓快門、CCD 攝像頭及圖像軟件、6 英寸與 8 英寸法蘭版本