歡迎聯(lián)系 15821107090 溝通詳細(xì)需求

在大多數(shù)粉體加工行業(yè)中，粉體的存儲(chǔ)和后續(xù)從容器中的排出往往面臨較大困難。具有良好流動(dòng)性的粉體在經(jīng)過(guò)一段時(shí)間的存儲(chǔ)和運(yùn)輸后流動(dòng)性會(huì)變差，在此之后只能通過(guò)錘擊和撞擊或者其他方式來(lái)排出。這種效應(yīng)被稱(chēng)為結(jié)塊，結(jié)塊描述了粉體顆粒之間牢固結(jié)合（靜電結(jié)合、橋接、機(jī)械形狀配合）的時(shí)間依賴(lài)性發(fā)展。這可能是由粉體的自重或外部施加的力所產(chǎn)生的恒定壓力引起的。例如，在粉體顆粒的表面，導(dǎo)致新的接觸點(diǎn)的發(fā)展和團(tuán)聚體和聚集體的形成。然后，這些聚集體進(jìn)一步固結(jié)，顆粒之間的空隙數(shù)量和尺寸減少。

通常來(lái)說(shuō)，結(jié)塊不是我們所希望看到的效果，因?yàn)樗鼤?huì)降低粉體的流動(dòng)性，例如導(dǎo)致芯流。因此，客戶(hù)希望能夠提前預(yù)判結(jié)塊，并適當(dāng)調(diào)整工藝參數(shù)以避免結(jié)塊的發(fā)生。我們?cè)谶@里提出了一種簡(jiǎn)單、可靠和可重復(fù)的方法，通過(guò)使用Mercury的Volution粉體測(cè)試儀來(lái)預(yù)測(cè)和評(píng)估粉體的結(jié)塊。

比市場(chǎng)上其他粉末剪切測(cè)試儀更實(shí)惠
測(cè)量?jī)?nèi)聚力、內(nèi)摩擦角、壁面摩擦、固結(jié)時(shí)間
在高達(dá)250 kPa（50 kg力）的壓力下測(cè)試樣品
自動(dòng)稱(chēng)量樣品的密度和壓縮性
包括軟件、溫度探頭、濕度探頭

Volution解決了流動(dòng)性問(wèn)題：

Volution粉末流動(dòng)測(cè)試儀（VFT）測(cè)量粉末和散裝固體的流動(dòng)特性和散裝特性。該系統(tǒng)使用環(huán)形剪切單元，通過(guò)屈服軌跡技術(shù)測(cè)量粉末對(duì)固結(jié)壓力的響應(yīng)。這使得該系統(tǒng)能夠測(cè)量材料的內(nèi)聚力和內(nèi)摩擦角，以及其無(wú)側(cè)限屈服強(qiáng)度。該系統(tǒng)還測(cè)量壁摩擦和壓縮性。流量函數(shù)可以通過(guò)在不同壓力下測(cè)試材料來(lái)測(cè)量。

如果您需要剪切測(cè)試儀，那么Volution粉末流量測(cè)試儀（VFT）就是您需要的。與市場(chǎng)上其他粉末剪切試驗(yàn)機(jī)相比，VFT具有以下優(yōu)勢(shì):

低成本：與其他剪切試驗(yàn)機(jī)相比，VFT非常實(shí)惠。原因是我們自己設(shè)計(jì)了儀器。我們不支付大學(xué)許可費(fèi)或特許權(quán)使用費(fèi)，因?yàn)槲覀兪褂昧?0年的粉末流業(yè)務(wù)經(jīng)驗(yàn)進(jìn)行設(shè)計(jì)。我們也沒(méi)有使用外部工程公司，這進(jìn)一步降低了我們的成本。這些節(jié)省將轉(zhuǎn)嫁給用戶(hù)。

大壓力范圍-由于我們的重型框架和驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)，VFT可以提供高達(dá)50公斤的垂直力。這大約是其他競(jìng)品的6倍。

自動(dòng)樣品稱(chēng)重：VFT在測(cè)量過(guò)程中自動(dòng)稱(chēng)重樣品，無(wú)需外部天平和稱(chēng)重樣品所需的時(shí)間。

樣品密度引起的法向載荷校正：VFT自動(dòng)調(diào)整施加在樣品蓋上的法向力，以校正剪切區(qū)上方粉末質(zhì)量的力。這對(duì)于致密粉末非常重要。其他系統(tǒng)不進(jìn)行這種調(diào)整，導(dǎo)致人為的剪切力過(guò)高。

實(shí)時(shí)測(cè)試：VFT的分析單元可以拆卸并保持在儀器卸載狀態(tài)下。這意味著可以在儀器上運(yùn)行其他樣品的同時(shí)進(jìn)行時(shí)間測(cè)試。其他剪切測(cè)試儀無(wú)法進(jìn)行時(shí)間測(cè)試，或者您必須將樣品放置在儀器上數(shù)小時(shí)，這樣就無(wú)法進(jìn)行其他測(cè)試。

可以測(cè)試粉末和顆粒材料：由于測(cè)試單元的幾何形狀，Volution可以測(cè)試粉末或顆粒材料。其他剪切試驗(yàn)機(jī)不能。原因是其他儀器的測(cè)試單元尺寸太小，無(wú)法測(cè)量大顆粒。通常建議用至少20個(gè)顆粒的層將剪切面與樣品池邊緣隔開(kāi)。有些儀器樣品池不夠深。其他具有葉片的樣品池不允許大顆粒測(cè)試，或者只允許薄層測(cè)試。