MAX-QS+白光干涉儀
MAX-QS+是一款白光相移干涉儀，用于檢測(cè)單光纖ST, FC, SC, LC, MU, E2000™(PC和APC)，多光纖MT-RJ (PC和APC)， SMA和特殊連接器。MAX-QS+白光干涉儀具有便攜設(shè)計(jì)，自動(dòng)對(duì)焦，100微米的掃描范圍，光纖高度和1.1微米的分辨率。
MAX-QS+白光干涉儀通過(guò)USB 3.0線纜和12V直流電源適配器連接筆記本電腦或臺(tái)式電腦。MAX-QS+白光干涉儀提供業(yè)界領(lǐng)先的MaxInspect 軟件，用于光纖連接器的干涉檢測(cè)。
MAX-QS+白光干涉儀主要特征：
高分辨率的2D和3D表面輪廓：可以探測(cè)到最小1.1 μm的表面細(xì)節(jié)。
自動(dòng)對(duì)焦：只需點(diǎn)擊一下，可以最大限度地減少操作員的動(dòng)作。
結(jié)合異常檢測(cè)和幾何測(cè)試：加快檢查，提高工作效率。
快速測(cè)量：在2秒或更短時(shí)間內(nèi)測(cè)量單個(gè)光纖連接器。
顯微鏡模式：測(cè)量前目測(cè)檢查連接器端面。
業(yè)界領(lǐng)先的MaxInspect 自動(dòng)檢測(cè)軟件： 可測(cè)量曲率半徑，頂點(diǎn)偏移，光纖高度等。
光纖高度掃描范圍超過(guò)1000微米：精確檢查有較大不連續(xù)的卡套表面和特殊接頭。
數(shù)據(jù)庫(kù)連接：將所有本地站點(diǎn)的測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在一個(gè)地方，并輕松將Sumix設(shè)備集成到您的制造系統(tǒng)中。
遵從行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)： 根據(jù)IEC, Telcordia或您自己的合格/不合格標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試。
Sumix MAX-QS+干涉儀技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量技術(shù): 非接觸式，邁克爾遜干涉儀
鏡頭: NA = 0.25，平面度誤差< λ/50
照明: 綠色LED (530nm)
視場(chǎng): 1.1 × 0.9 mm
橫向分辨率: 1.1μm
放大倍數(shù): 500x(數(shù)碼變焦關(guān)閉)
聚焦: 自動(dòng)和手動(dòng)
最大圖像尺寸: 2590 × 1940 像素
可匹配連接器/連接管(PC和APC): SC, FC, ST, LC, MU, E2000™, SMA, MT-RJ
顯微鏡模式: 是的
測(cè)量模式: 相移和白光
掃描計(jì)算時(shí)間（測(cè)量時(shí)間可能因計(jì)算機(jī)性能和連接器端面形狀而異）：2秒
測(cè)量范圍: ROC (mm): 1至flat; 頂點(diǎn)偏移量: 0 ~ 2000μm; 光纖高度:大于1000um; 角度測(cè)量-全范圍(度): 0至28度
可重復(fù)性C.F.: Roc: 0.1%; 光纖高度:0.1nm; 角度:0.0002度; 頂點(diǎn)偏移: 0.08μm
可重復(fù)性C.R. : Roc: 0.16%; 光纖高度:0.4nm; 角度:0.006度; 頂點(diǎn)偏移: 0.8μm
MAX-QS+干涉測(cè)量系統(tǒng)包括:
MAX-QS +干涉儀
光學(xué)平面標(biāo)準(zhǔn)
USB 3.0電纜
AC適配器
內(nèi)六角扳手
包裝箱
MaxInspect™軟件
固定裝置和其他配件需單獨(dú)訂購(gòu)。
[pdfjs-viewer url=”https%3A%2F%2Fguanyatd.com%2Fsumix%2Fwp-content%2Fuploads%2Fsites%2F21%2F2024%2F04%2FSumix-%E5%B9%B2%E6%B6%89%E4%BB%AA%E8%B5%84%E6%96%99-CH.pdf” viewer_width=100% viewer_height=1360px fullscreen=true download=true print=true]
